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三星DRAM良率突破50%,下半年将量产HBM4

来源:全球半导体观察       

2025年7月18日,韩国媒体报导,三星电子在10奈米级第六代(1c)DRAM制程方面取得了重大进展,良率已突破50%。这一突破标志着三星在高效能记忆体市场的竞争力有望提升,并计划在下半年开始量产第六代高带宽记忆体(HBM4)。

1c DRAM制程的技术节点约为11至12奈米,相较于目前主流的第4代(1a,约14nm)和第5代(1b,约12-13nm)DRAM,1c不仅具备更高的密度,还能有效降低功耗,晶粒厚度也更薄,这将有助于在HBM4中堆叠更多层次的记忆体,显著提升容量和频宽密度。

三星自去年起全力投入1c DRAM的研发,并由DRAM开发室长黄相准主导重设计作业。他指出,1c DRAM的性能和良率未达标的根本原因在于初期设计架构的缺陷,强调必须从设计阶段彻底修正,才能取得进展。此次高层介入调整设计流程,显示出三星重回技术领先地位的决心。

三星还计划在下半年供应HBM4样品,并将「客制化HBM」作为新战略的核心。 HBM4允许将逻辑晶片与DRAM堆叠整合,通过晶圆代工制程最佳化整体架构,以满足不同应用需求的高效解决方案。此外,三星也将自研4奈米制程应用于HBM4堆叠底部的逻辑晶片,以提升整体效能和整合弹性。

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